超声波标准试块双晶片直探头检验用对比试块

双晶片直探头检验用对比试块

一、双晶探头的结构和工作原理

1、一般来讲，一个探头壳体内装有两个晶片的探头我们称之为双晶探头，又称分割式探头。由两个纵波晶片组合成的双晶探头称为纵波双晶探头，又称双晶直探头；由两个横波晶片组成的双晶探头称为横波双晶探头，又称双晶斜探头。

2、这两种双晶探头中，双晶直探头的应用较为广泛，以下以双晶直探头为例重点探讨双晶直探头的结构和工作原理：

双晶直探头的两个纵波晶片一个用于发射超声，一个用于接收超声。发射压电晶片大都采用发射性能好的锆钛酸铅，接收压电晶片大都采用接收性能好的硫酸 锂。区别于单晶探头而言，双晶探头的发射灵敏度和接收灵敏度都更高。双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层，它不仅用于克服发射声束与 反射声束的相互干扰和阻塞，而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片，有效减少杂波。

3、双晶探头存在一定的检测盲区，使用对比试块知道探头可探测最浅的平底孔深度，那盲区的问题是否只能最小化，而无办法避免。因为双晶探头的特性，制作DAC曲线时，是采用三点（记得看到过，但是暂时没有探头，无法实验），还是挨个平底孔标记做曲线。
4、由于探头晶片与探测面成一定角度，所以在直径大于200mm的厚、薄管件表面是否可用作轴，周两个方向的扫查，还是轴向用斜探头比较好一点。
5、探头F的选择为板厚T的一半或稍多一点是否合适。
6、在管材、锻筒件检测中，双晶斜探头的F该如何选择，是否以探头K值对应的声程来确定，其灵敏度调节没有找到标准是说的比较明白的，好像是说，比噪声信号比大1-3MM什么的，不明白。还是也用平底孔对比试块做曲线。
双晶斜探头是否只能接收菱形区内的缺陷信号，二次波的就接收不到了，也就是说外表面的缺陷就检测不到了。
二、另外，锻筒件轴向扫查时，可以用与工件轴向平行的平底孔做DAC曲线吗？让孔与探头扫查方向平行（筒件）

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