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超声波标准试块双晶片直探头检验用对比试块

简要描述:产品型号和价格
8阶梯3~10mm 380
2阶梯54~60mm 580
2阶梯54~60mm 580
超声波标准试块双晶片直探头检验用对比试块

  • 产品型号:8阶梯12~48mm 2阶梯54~60mm
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-07-13
  • 访  问  量:480
详情介绍

双晶片直探头检验用对比试块

一、双晶探头的结构和工作原理

1、一般来讲,一个探头壳体内装有两个晶片的探头我们称之为双晶探头,又称分割式探头。由两个纵波晶片组合成的双晶探头称为纵波双晶探头,又称双晶直探头;由两个横波晶片组成的双晶探头称为横波双晶探头,又称双晶斜探头。

2、这两种双晶探头中,双晶直探头的应用较为广泛,以下以双晶直探头为例重点探讨双晶直探头的结构和工作原理:

双晶直探头的两个纵波晶片一个用于发射超声,一个用于接收超声。发射压电晶片大都采用发射性能好的锆钛酸铅,接收压电晶片大都采用接收性能好的硫酸 锂。区别于单晶探头而言,双晶探头的发射灵敏度和接收灵敏度都更高。双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层,它不仅用于克服发射声束与 反射声束的相互干扰和阻塞,而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,有效减少杂波。

3、双晶探头存在一定的检测盲区,使用对比试块知道探头可探测最浅的平底孔深度,那盲区的问题是否只能最小化,而无办法避免。因为双晶探头的特性,制作DAC曲线时,是采用三点(记得看到过,但是暂时没有探头,无法实验),还是挨个平底孔标记做曲线。
4、由于探头晶片与探测面成一定角度,所以在直径大于200mm的厚、薄管件表面是否可用作轴,周两个方向的扫查,还是轴向用斜探头比较好一点。
5、探头F的选择为板厚T的一半或稍多一点是否合适。
6、在管材、锻筒件检测中,双晶斜探头的F该如何选择,是否以探头K值对应的声程来确定,其灵敏度调节没有找到标准是说的比较明白的,好像是说,比噪声信号比大1-3MM什么的,不明白。还是也用平底孔对比试块做曲线。
双晶斜探头是否只能接收菱形区内的缺陷信号,二次波的就接收不到了,也就是说外表面的缺陷就检测不到了。
二、另外,锻筒件轴向扫查时,可以用与工件轴向平行的平底孔做DAC曲线吗?让孔与探头扫查方向平行(筒件)

超声波标准试块双晶片直探头检验用对比试块








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