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日本标准试块超声波探伤试块

简要描述:产品型号和价格
JIS-STB-A1 650
JIS-STB-A2 650
JIS-STB-A3 550
JIS-STB-G 550
STB-A21 550
STB-A22 550
日本标准试块超声波探伤试块

  • 产品型号:STB-A1 STB-A2 JIS-STB-A3
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-07-13
  • 访  问  量:381
详情介绍

日本标准试块超声波探伤试块

1. 标准试块


标准试块简称STB试块,通常由国际有关组织,国家和工业部的技术部门、标准化组织推荐、确定和通过使用的。它们可作为探伤仪、探头性能的测定;探伤灵敏度和时间轴比例等的调整,以及缺陷尺寸的评价。但某一种试块不一定都具备这些功能,而是随应用对象不同而有所侧重,它们常常在使用目的相同的检查之间通用,其材质、形状、尺寸及使用性能也均已达到了标准化程度。例如,国际上通用的标准试块有IIW试块、IIW2试块等,我国的CS–1,CS–2,CSK–IA,CSK–IB,CSK–IC(如图2–34),日本的STB–G系列试块,美国的ASTM和ASME的标准试块,英国的BS–A2,BS–A4试块,西德DIN54120中的1#试块等等均属此列,其中有些试块可用于制作距离–波幅曲线或面积–波幅曲线。

标准试块标准试块通常是由机构制定的试块,其特性与制作要求有专门的标准规定。 标准试块通常具有规定的材质、形状、尺寸及表面状态。 标准试块用于仪器探头系统性能测试校准和检测校准,

型号:JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22、JIS-STB-A1(与IW试块相同)

JIS-STB-A2(用单探头或双探头法进行斜角探伤时,用于探伤灵敏度的调整或表示。也可用于探伤仪的综合分辨力的测定和表示)。

JIS-STB-A3(作为A1和A2试块现场用的辅助标准试块,可用于入射点的确定、时间轴的调整、时间轴原点的修正、折射角和探伤灵敏度的确定)

JIS-STB-G(用于各种调整, min探伤距离的检定等)。

V2~V8都加工有∮2平底孔,和V15-2-样用于2~15mm探伤距离下的灵敏度特性试验,反射脉冲高度在规定值t1db以内。V15-1~V15-5.6钻有p1.0~∮5.6mm平底孔,相邻孔底的西积比依次为2倍。即用于探伤灵敏度的调整。

日本标准试块超声波探伤试块







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