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扫查面盲区高度测定试块无损检测超声波试块

简要描述:产品型号和价格
扫描面盲区高度测定试块 1650
支架 1200
扫查面盲区高度测定试块无损检测超声波试块

  • 产品型号:NB/T47013-2015
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-07-11
  • 访  问  量:839
详情介绍

扫查面盲区高度测定试块无损检测超声波试块

一、该类试块依据扫查面盲区高度测定试块的要求而设计.适用于测定初始扫查面的盲区高度.该类试块依据扫查面盲区高度测定试块的要求而设计.适用于测定初始扫查面的盲区高度.

二、NB/T 47013.10-2015标准《承压设备无损检测 第10部分:衍射时差法超声检测》中提出了对盲区的控制要求,并规定了采用扫查面盲区试块。华电郑州机械设计研究院有限公司/郑州国电机械设计研究所有限公司的检测人员提出了一种新型的TOFD技术扫查面盲区对比试块,该试块可为制定检测工艺时确定扫查面盲区提供准确的数据支撑。下面就让我们来详细了解一下吧。

TOFD技术的扫查面盲区特征

TOFD检测技术采用探头对一发一收的放置方法来控制发射短脉冲,通过计算遇到缺陷转变的衍射信号到达时间来分析缺陷的位置及大小。受信号脉冲宽度的限制,近表面缺陷的端点衍射波与直通波发生重叠,形成扫查面盲区,导致缺陷定位困难。盲区深度为d,声速为c,探头中心距为2S,直通波的传输时间TL=2S/c,直通波脉冲时间宽度Tp可从振幅的10%处截取得到,一般情况下取直通波两倍周期,则盲区的深度d可按下式算出:

目前,通过优化检测参数(减小探头中心距、提高探头频率等)来控制扫查面盲区,但上述参数无论怎样调节都无法使盲区减小到可忽略的程度。由于扫查面盲区较大,实际检测时需要采取其他有效措施解决扫查面盲区内缺陷漏检的问题。

三、扫查面盲区对比试块

NB/T 47013.10-2015标准要求使用扫查面盲区高度测定试块来确定初始扫查面盲区的高度。

该试块上有距离扫查面不同深度、不同长度的8个Φ2mm横孔,从标准中可以看出对试块加工工艺有很高的要求,这些横孔孔径较小且长度较长。

四、新型TOFD扫查面盲区对比试块

设计的新型TOFD扫查面盲区对比试块采用深度连续变化的矩形槽(见图1)。该试块所用材料需经过MT(磁粉检测)、UT(超声检测)、PAUT(相控阵超声检测)等方法严格检测,试块声束通过区不得有大于等于Φ2mm的平底孔当量的缺陷存在。试块采用电火花数控线切割机床加工而成,加工工艺简单,成本较低,数控加工精度可控,可以满足现场检测对比验证的需要。有条件的情况下,可以在试块上表面刻上长度,并计算出对应长度位置处盲区的高度。

扫查面盲区高度测定试块无损检测超声波试块


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