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超声波对比试块无损探伤试块

简要描述:产品型号和价格
A型T=25mm 2050
A型支架3# 1600
B型T=50mm 3150
B型支架5# 1600
C型T=100mm 4600
C型支架6# 1600
D型T=200mm 6000
D型支架8# 2200
E型T=400mm 22500
E型支架 2200
超声波对比试块无损探伤试块

  • 产品型号:TOFD-A/B/C/D/E
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-07-11
  • 访  问  量:6602
详情介绍

超声波对比试块无损探伤试块

一、首先检测前需要对检测灵敏度进行确定,确定的方法一般应采用对比试块来进行。

根据NB 47013.10 衍射时差法超声检测标准要求:

1.当采用对比试块上的反射体设置灵敏度时,需要将较弱的衍射信号波幅设置为满屏高的40%-80%,并在被检工件表面扫查时进行表面耦合补偿。

2.当被检工件厚度不大于50mm且采用单通道检测时,也可直接在被检工件上进行灵敏度设置,一般将直通波的波幅设置到满屏高的40%-80%。

3.当然也可以使用对比试块进行校准,对于壁厚12mm≤t≤25mm的试块,应至少设置3个反射体,包括一个试块表面的矩形槽,扫查面下4mm处一个2mm侧孔,以及一个1/2t处尖槽或者一个侧孔。(具体要求参见标准)

如果用对比试块进行灵敏度校准,则需要对比试块上较弱的缺陷信号调至40%-80%之间。

TOFD(Time of Flight Diffraction)技术是一种基于衍射信号实施检测的技术,即衍射时差法超声检测技术。总的来说。

二、TOFD技术有很多优点:

1、可靠性好,由于利用的是波的衍射信号,不受声束角度的影响,缺陷的检出率比较高。
2、定量精度高。
3、检测过程方便快捷。一般一人就可以完成TOFD检测,探头只需要沿焊缝两侧移动即可。
4、拥有清晰可靠的TOFD扫查图像,与A型扫描信号比起来,TOFD扫查图像更利于缺陷的识别和分析。
5、TOFD检测使用的都是高性能数字化仪器,记录信号的能力强,可以全程记录扫查信号,而且扫查记录可以长久保存并进行处理。
6、除了用于检测外,还可用于缺陷变化的监控,尤其对裂纹高度扩展的测量精度很高。
但是TOFD技术也有它自身的局限性:
1、对近表面缺陷检测的可靠性不够。上表面缺陷信号可能被埋藏在直通波下面而被漏检,而下表面缺陷则会因为被底面反射波信号掩盖而漏检。
2、缺陷定性比较困难。
3、TOFD图像的识别和判读比较难,需要丰富的经验。
4、不容易检出横向缺陷。
5、复杂形状的缺陷检测比较难。
6、点状缺陷的尺寸测量不够精确。超声波对比试块无损探伤试块







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